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https://repositorio.ufba.br/handle/ri/10686
metadata.dc.type: | Dissertação |
Título : | Medida de condutividade de semicondutores à baixa temperatura |
Autor : | Santos, Erick Santana dos |
metadata.dc.creator: | Santos, Erick Santana dos |
Resumen : | Neste trabalho realizamos a montagem experimental dos equipamentos necessários para medida da condutividade em baixa temperatura iniciando com a descrição teórica envolvida, seguido daapresentação dos equipamentos utilizados e métodos de medidas. Mostramos que o método para medir a condutividade usada geralmente, ométodo de van der Pauw, apresenta dificuldades quando se trata de efetuar a soldas dos contatos nas amostras, mas que se obtêm resultados satisfatórios com a sua utilização. Com a caracterização do óxido de estanho dopado pelo flúor (SnO2:F) obtemos resultados, a partir de uma descrição teórica desenvolvida, que não eram verificadas em medidas de condutividade em baixa temperatura. Verificamos também que a teoria existente se torna inadequada, quando se trata de semicondutores com alta concentração de impurezas. |
Palabras clave : | Propriedades elétricas Física do estado sólido Semicondutores |
Editorial : | Programa de Pós-Graduação em Física da UFBA |
URI : | http://www.repositorio.ufba.br/ri/handle/ri/10686 |
Fecha de publicación : | 2009 |
Aparece en las colecciones: | Dissertação (PPGFIS) |
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